August 30, 2012

STEP-BY-STEP FABRICATION OF A HIGHLY ORIENTED CRYSTALLINE THREE-DIMENSIONAL PILLARED-LAYER-TYPE METAL-ORGANIC FRAMEWORK THIN FILMS CONFIRMED BY SYNCHROTRON X-RAY DIFFRACTION

 
"Step-by-step fabrication of a highly oriented crystalline three-dimensional pillared-layer metal-organic framework thin film confirmed by synchrotron X-ray diffraction". K. Otsubo, T. Haraguchi, O. Sakata, A. Fujiwara, H. Kitagawa. JOURNAL OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY 134, 9605 (2012). DOI: 10.1021/ja304361v

Fabrication of a crystalline ordered thin film based on the porous metal–organic frameworks (MOFs) is one of the practical applications of the future functional nanomaterials. Here, we report the creation of a highly oriented three-dimensional (3-D) porous pillared-layer-type MOF thin film on a metal substrate using a step-by-step approach based on liquid-phase epitaxy. Synchrotron X-ray diffraction (XRD) study clearly indicates that the thin film is crystalline and its orientation is highly controlled in both horizontal and vertical directions relative to the substrate. This report provides the first confirmation of details of not only the crystallinity but also the orientation of 3-D MOF thin film using synchrotron XRD. Moreover, we also demonstrate its guest adsorption/desorption behavior by using in situ XRD measurements. The results presented here would promise useful insights for fabrication of MOF-based nanodevices in the future.

La fabricación de una película delgada con ordenamiento cristalino, en base a estructuras porosas metal-orgánicas (MOFs), es un a de las aplicaciones prácticas de los nanomateriales funcionales futuros. Aquí se reporta la elaboración, sobre un sustrato metálico, de una película delgada MOF porosa, tridimensional (3-D), ensamblada por apilación de capas, y con un alto ordenamiento, a partir de una estrategia de paso a paso basada en crecimiento epitaxial en fase líquida. Los estudios de difracción de rayos X (XRD), en sincrotrón, indican claramente que la película delgada es cristalina y que su orientación está altamente controlada en las direcciones vertical y horizontal, en relación al sustrato. Este reporte proporciona la primera confirmación de detalles que no solamente corresponden a la cristalinidad, sino que también corresponden a la orientación de la película delgada MOF 3-D, a partir del uso de XRD en sincrotrón. Es más, también se demuestra su comportamiento ante la adsorción/desorción por medio de mediciones XRD in situ. Los resultados que se presentan proporcionan conocimiento útil para la fabricación de nanodispositivos futuros hechos con MOFs.

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